LOPEZ, L. D. P.; GRAUBY, Stéphane; DILHAIRE, S.; SALHI, M. A.; CLAEYS, W.; LEFEVRE, S.; VOLZ, S.

doi:10.1016/j.mejo.2004.06.010

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LOPEZ, L. D. P.
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]

GRAUBY, Stéphane
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]

DILHAIRE, S.
Centre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]

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Microelectronics Journal. 2004-10, vol. 35, n° 10, p. 797-803

Elsevier

Résumé en anglais

In this paper, we present the temperature profile measurements of a PN thermoelectric couple. The study is made in the AC regime. A couple is fed by a sinusoidal current and, using a scanning thermal microscope (SThM) and a lock-in scheme, we measure the amplitude and the phase of the first harmonic of the temperature along the surface of the couple. The influence of frequency is observed and we present a model which predicts the thermal behavior of the couple. The results of this model are in excellent agreement with the measurements.< Réduire

Mots clés en anglais

Thermal properties identification

Atomic force microscopy

Thermoelectric device

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Characterization of the thermal behavior of PN thermoelectric couples by scanning thermal microscope

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