Thermoreflectance imaging of laser diodes and VCSELs along and perpendicular to the emission direction
ROUILLARD, Y.
Institut d’Electronique et des Systèmes [IES]
Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge [NANOMIR]
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Institut d’Electronique et des Systèmes [IES]
Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge [NANOMIR]
Language
en
Communication dans un congrès
This item was published in
Workshop on Optical Measurement Techniques for Structures and Systems, 2007, Leuven.
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