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hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorQUINTARD, V.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorDILHAIRE, Stefan
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorPHAN, T.
hal.structure.identifierCentre de physique moléculaire optique et hertzienne [CPMOH]
dc.contributor.authorCLAEYS, W.
dc.date.issued1999
dc.identifier.issn0018-9456
dc.language.isoen
dc.publisherInstitute of Electrical and Electronics Engineers
dc.title.enTemperature measurements of metal lines under current stress by high-resolution laser probing
dc.typeArticle de revue
dc.identifier.doi10.1109/19.755063
dc.subject.halPhysique [physics]
bordeaux.journalIEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
bordeaux.page69-74
bordeaux.volume48
bordeaux.issue1
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierhal-01840914
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceInternationale
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//hal-01840914v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=IEEE%20Transactions%20on%20Instrumentation%20and%20Measurement&rft.date=1999&rft.volume=48&rft.issue=1&rft.spage=69-74&rft.epage=69-74&rft.eissn=0018-9456&rft.issn=0018-9456&rft.au=QUINTARD,%20V.&DILHAIRE,%20Stefan&PHAN,%20T.&CLAEYS,%20W.&rft.genre=article


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