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Trace elements evaluation by PIXE method versus depth in soft tissues near metallic implants

hal.structure.identifierLaboratoire de Physique Corpusculaire - Clermont-Ferrand [LPC]
dc.contributor.authorCHASSOT, E.
hal.structure.identifierLaboratoire de Physique Corpusculaire - Clermont-Ferrand [LPC]
dc.contributor.authorOUDADESSE, H.
hal.structure.identifierLaboratoire de Physique Corpusculaire - Clermont-Ferrand [LPC]
dc.contributor.authorBARBOTTEAU, Yves
hal.structure.identifierLaboratoire de Physique Corpusculaire - Clermont-Ferrand [LPC]
dc.contributor.authorIRIGARAY, J-L.
dc.contributor.authorTERVER, S.
dc.contributor.authorVANNEUVILLE, G.
hal.structure.identifierCentre d'Etudes Nucléaires de Bordeaux Gradignan [CENBG]
dc.contributor.authorMORETTO, P.
dc.date.issued2002
dc.identifier.issn0733-4680
dc.language.isoen
dc.publisherInforma UK (Marcel Dekker)
dc.title.enTrace elements evaluation by PIXE method versus depth in soft tissues near metallic implants
dc.typeArticle de revue
dc.subject.halPhysique [physics]/Physique [physics]/Biophysique [physics.bio-ph]
bordeaux.journalJournal of Trace and Microprobe Techniques
bordeaux.page571-580
bordeaux.volume20
bordeaux.peerReviewedoui
hal.identifierin2p3-00012066
hal.version1
hal.popularnon
hal.audienceNon spécifiée
hal.origin.linkhttps://hal.archives-ouvertes.fr//in2p3-00012066v1
bordeaux.COinSctx_ver=Z39.88-2004&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.jtitle=Journal%20of%20Trace%20and%20Microprobe%20Techniques&rft.date=2002&rft.volume=20&rft.spage=571-580&rft.epage=571-580&rft.eissn=0733-4680&rft.issn=0733-4680&rft.au=CHASSOT,%20E.&OUDADESSE,%20H.&BARBOTTEAU,%20Yves&IRIGARAY,%20J-L.&TERVER,%20S.&rft.genre=article


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